產(chǎn)品簡介：
激光粒度分析儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的**動態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項試驗。
適用范圍：
激光粒度分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應(yīng)用于精細化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測儀器。
技術(shù)參數(shù)：
| 規(guī)格型號:YT-JL601 | 執(zhí)行標準:GB/T 19627-2005/ISO 13321-1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412-2008 | 測試范圍 :1-10000nm（與樣品有關(guān)）;-500mV — +500mV | 濃度范圍:0.1mg/ml --100mg/ml(與樣品有關(guān)) | 電泳遷移率范圍:> ±20μm.cm/V.s | **電導率:200mS/cm（取決于樣品） | 準確度誤差::<1%（國家標準樣品D50值） <15%（標準樣品） | 重復(fù)性誤差:<1%（國家標準樣品D50值） <15%（標準樣品） | 激光光源:半導體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調(diào)） | 探測器:光電倍增管PMT | 散射角:90o 18o | 樣品池體積:10mm*10mm*40mm, 1--4mL 10mm*10mm*60mm, 1mL | 溫控范圍:5-45℃ | 溫控精度:0.1℃ | 測試速度:<5 Min | 數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù): (1)規(guī)格型號:HA1024;HA1024 (2)自相關(guān)通道:892;892 (3)基線通道:4;- (4)物理通道數(shù):5000;- (5)延遲時間:1μs-10ms（可調(diào)）;1μs-10ms（可調(diào)） | 體積:560mm*450mm*280mm | 重量:20Kg |
產(chǎn)品特點和優(yōu)勢：
| 測試原理:采用電泳光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運動的群體速度，激光照射這些顆粒，導致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。 | 超高速數(shù)據(jù)采集:本儀器的核心部件通過HA1024數(shù)字相關(guān)器，能實時完成電泳散射光強的采集和自相關(guān)函數(shù)運算，從而有效地反映顆粒的電泳運動速度的信息，為Zeta電位測試結(jié)果的準確性奠定基礎(chǔ)。 | 高靈敏度信噪比:采用專業(yè)級高性能光電倍增管，對光子信號具有**的靈敏度和信噪比。 | 高精度恒溫控制:采用半導體溫控技術(shù)，溫控精度高達0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動變化導致的測試偏差，保證測試結(jié)果準確性及穩(wěn)定性 | 穩(wěn)定的光路系統(tǒng):采用光學移頻裝置與光纖耦合技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性。 |
網(wǎng)址：http://585665.cn
